電子產品可測性設計(DFT)工程實踐
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隨著(zhu)電子信(xin)息產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)，尤其是(shi)通訊(xun)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)日益激烈的(de)(de)(de)(de)市(shi)場(chang)競爭和(he)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)高密度(du)、高集成度(du)及高復雜度(du),如(ru)(ru)何能快速的(de)(de)(de)(de)、低成本(ben)的(de)(de)(de)(de)、高質量的(de)(de)(de)(de)向市(shi)場(chang)推(tui)出產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)，是(shi)各企業(ye)必須面臨的(de)(de)(de)(de)挑戰。測試是(shi)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)質量保(bao)證的(de)(de)(de)(de)重要手(shou)段，如(ru)(ru)何快速、高效、低成本(ben)的(de)(de)(de)(de)完成產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)測試，縮短(duan)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)穩(wen)定周(zhou)期，快速的(de)(de)(de)(de)響應市(shi)場(chang)。可測試性設(she)計(ji)是(shi)提(ti)高產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)測試效率(lv)、降低測試成本(ben)和(he)保(bao)證測試質量的(de)(de)(de)(de)重要手(shou)段。本(ben)課程(cheng)總(zong)結講師多年的(de)(de)(de)(de)工作(zuo)經驗(yan)和(he)實(shi)例(li),精制而成。
培訓收益
深刻理解可測性設計(DFT)的基本思想和基本原理
熟悉可測性設計(DFT)的基本業務流程
全面掌握可測性設計(DFT)的設計方法
有效構建可測性設計(DFT)的體系平臺和貨架技術
培訓時間：1天（7小時）
目標學員：
電(dian)子信息企業系(xi)統工程師、研發部(bu)經(jing)理(li)、測試部(bu)經(jing)理(li)、制造技(ji)術部(bu)經(jing)理(li)、新產品(pin)導入(NPI)經(jing)理(li)，及研發工程師等
課程內容
1、可測(ce)性(xing)設計(DFT)概(gai)述(shu)
- 產品生命周期V模型
- 電子信息產品測試所面臨的問題
- 什么是可測性設計(DFT)
- 思考：如何深刻理解可測性設計(DFT)
- 可測性的物理特征表述
- 可測性的測度形式
- 討論：以下各功能模塊的可測性測度是怎樣的？
- 可測性設計(DFT)的效益分析
- 可測性設計(DFT)基本要素
- IPD模式下的DFT體系結構
- 可測性設計(DFT)基本過程
- 可測性設計(DFT)中常用術語及縮略語
2、可(ke)測性設計(DFT)需求
- 整機研發測試的可測性(DFT)需求來源
- 整機研發測試的可測性(DFT)需求
- 單板軟件研發測試的可測性(DFT)需求來源
- 單板軟件研發測試的可測性(DFT)需求
- 單板硬件研發測試的可測性(DFT)需求來源
- 單板硬件研發測試的可測性(DFT)需求
- 單板生產測試的可測性(DFT)需求來源
- 單板生產測試的抽象模型
- 思考：單板生產測試的目的是什么？
- 單板生產測試路線
- 單板生產工藝測試基本原理
- 單板生產功能測試基本原理
- 單板生產測試的可測性(DFT)需求
- 討論：本公司各產品適合的生產測試方案和路線是怎樣的？
- JTAG在生產測試中的應用
- JTAG在生產測試中的可測性設計(DFT)需求
- 單板維修可測性設計(DFT)需求
- 思考：本公司生產維修有哪些診斷手段？
3、可測性設計(DFT)基本方(fang)法
- 輸入輸出通道設計——測試控制物理通道
- 輸入輸出通道設計——外部測試命令集
- 輸入輸出通道設計——測試控制管理
- 輸入輸出通道設計——測試信息存儲與輸出
- 輸入輸出通道設計——外部儀器輸入輸出接口
- 內置數據源設計——業務數據源自動生成
- 內置數據源設計——差錯數據源自動生成
- 內置數據源設計——容限/極限數據源自動生成
- 內置數據源設計——故障數據源自動生成
- 能控性設計——測試數據源的設置與啟動
- 能觀性設計——系統配置狀態監控
- 能觀性設計——系統業務狀態監控
- 能觀性設計——單板運行狀態監控
- 能觀性設計——系統資源狀態監控
- 能觀性設計——系統其它狀態監控
- BIST設計——通道分層環回
- BIST設計——故障診斷
- BIST設計——初始化自檢
- 案例解讀
4、單板可(ke)測性(xing)設計(DFT)必須(xu)考慮(lv)的要素
- 機械結構設計
- 自檢和自環設計
- 工裝夾具設計
- 測試點設計
- 芯片控制引腳設計
- 邊界掃描測試設計
- EPLD/CPLD/FPGA設計
- 如何設計以減少測試點
5、可測性(xing)設計(DFT)工(gong)程實施
- 可測性設計(DFT)工程實施步驟
- 可測性設計(DFT)工程實施障礙
- 交流與探討：如何構建可測性設計(DFT)體系和貨架技術
培訓特點
本課程(cheng)以(yi)可測(ce)(ce)性(xing)設計(ji)的(de)(de)基本原理和(he)(he)基本方(fang)法為出發點,通(tong)過(guo)實例(li)來系統深(shen)入地講(jiang)解電(dian)(dian)子(zi)信(xin)息產品(pin)的(de)(de)可測(ce)(ce)性(xing)設計(ji)理念和(he)(he)解決方(fang)案(an),通(tong)過(guo)該課程(cheng)的(de)(de)學(xue)習可以(yi)掌握電(dian)(dian)子(zi)信(xin)息產品(pin)可測(ce)(ce)性(xing)設計(ji)的(de)(de)要素和(he)(he)方(fang)法.通(tong)過(guo)案(an)例(li)導讀(du)和(he)(he)講(jiang)解的(de)(de)方(fang)式，深(shen)刻闡述了可測(ce)(ce)性(xing)設計(ji)在(zai)產品(pin)的(de)(de)開(kai)發、測(ce)(ce)試、生產和(he)(he)市場維護中的(de)(de)重要意義(yi)。
講師簡介
程老師 工學碩士 資深講師
從業經驗：
- 曾任職華為公司等知名企業，15年以上大型企業研發及生產測試設計實踐經驗；
- 主導華為公司交換、接入、多媒體、傳輸、手機等通訊產品的測試設備開發和測試平臺研究；
- 擔任Adtran公司的Networks產品的測試技術顧問；
- 擔任Xalted（China）公司中試部經理，組建了公司工程技術研究平臺；
- 主導開發華為公司多種產品的DFT貨價技術；
- 主持建立華為公司DFT可測性技術研究平臺，擅長DFT、ATE、信號完整性等測試設計平臺的建立與應用，在信號完整性、可測性設計、自動化測試設備開發及生產測試策略研究等測試領域有深入研究與實踐應用經驗。
專長：
- 通訊產品、電源信號完整性設計與測試
- DFT、DFM、生產測試策略
- ATE平臺規劃與開發
- 產品測試組織及管理構建
- 產品工程技術規劃與實施