電子產品白盒測試
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【課程概要】
由于黑盒測試(shi)(shi)所施加的(de)應力(li)種類和(he)水(shui)平有(you)限(xian)，同時黑盒測試(shi)(shi)時往往是(shi)為了暴(bao)漏產品的(de)功(gong)能問題，從(cong)目前統計(ji)數據來看，黑盒測試(shi)(shi)暴(bao)露(lu)可靠性隱(yin)患的(de)效率(lv)有(you)限(xian)，且投入巨大。
白(bai)盒測試(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)把產(chan)(chan)(chan)品的(de)(de)外殼(ke)打開，實實在(zai)在(zai)地去測量(liang)每(mei)一根信(xin)號(hao)，除(chu)了常(chang)規的(de)(de)波(bo)(bo)形觀察(cha)之(zhi)外，對波(bo)(bo)形的(de)(de)各項(xiang)指標(biao)、時序的(de)(de)各項(xiang)指標(biao)都(dou)進行測試(shi)(shi)(shi)，分析(xi)波(bo)(bo)形是(shi)(shi)否符合(he)設(she)計(ji)預期，同(tong)時根據各項(xiang)指標(biao)的(de)(de)測試(shi)(shi)(shi)結果判斷是(shi)(shi)否符合(he)設(she)計(ji)要求(qiu)，并(bing)保(bao)留一定(ding)的(de)(de)余量(liang)，保(bao)證(zheng)在(zai)抽樣測試(shi)(shi)(shi)時也(ye)能(neng)兼顧批次間差異的(de)(de)影響(xiang)，保(bao)證(zheng)長期大量(liang)生產(chan)(chan)(chan)的(de)(de)穩定(ding)性。從歷史經驗表明，白(bai)盒測試(shi)(shi)(shi)還能(neng)夠(gou)發(fa)現一些(xie)隱蔽性強的(de)(de)可靠性隱患(huan)，并(bing)對于占(zhan)返(fan)修(xiu)(xiu)率較大比例的(de)(de)返(fan)修(xiu)(xiu)不重現問題也(ye)能(neng)夠(gou)有效暴露出來。相比于黑(hei)盒測試(shi)(shi)(shi)，白(bai)盒測試(shi)(shi)(shi)的(de)(de)投入并(bing)不大，投入產(chan)(chan)(chan)出率高得多。
本課程就是(shi)基于(yu)以上現狀，從基本的儀器的使用(yong)基礎出發，講解白盒測試(shi)(shi)相(xiang)關的原理(li)性(xing)知識(shi)，并附有大量的實用(yong)測試(shi)(shi)案(an)例。
【培訓對象】
產品經(jing)理、研(yan)發經(jing)理、質量經(jing)理、可靠性工程師、硬(ying)件工程師、測試(shi)工程師、質量工程師等。
【培訓收益】
- 掌握各類硬件電路的測試方法。
【課程大綱】（12小時）
1.白盒測試之測試儀器篇——示波器基礎
1.1.示波器基礎知識：講解各種類別示波器的原理和特點
1.2.示波器使用：講解示波器的選擇、使用方法和使用注意事項
1.3.探頭基礎知識：講解各種探頭的原理和特點
1.4.探頭使(shi)用：講解探頭的選(xuan)擇、使(shi)用方法和注意事項
2.白盒測試之模擬電路
2.1.模擬電路測試基礎：講解各種基本模擬電路的測試原理和重點
2.2.運放及相關電路測試：講解運放的設計特點和測試要求
2.3.模數轉換器測試：講解各種高速和低速ADC的設計注意事項和測試點
2.4.數模轉換器(qi)測試：講解各種高(gao)速和(he)低速DAC的設計注意事(shi)項(xiang)和(he)測試點
3.信號完整性測試
3.1.信號完整性測試的重要性（理想邏輯電壓波形、實際邏輯波形、數據采樣及時序的例子）
3.2.信號質量常用測試方法（振幅參數、時間參數的測量、共模和差模信號的測量、眼圖的測量）
3.3.信號時序常用測試方法（建立時間、保持時間、傳輸延遲、SKEW的測試方法）
3.4.常見的信號質量問題（質量與時序的關系，常見三種SI問題：反射、串擾和噪聲，EMC/EMI與SI的關系）
3.5.設計(ji)中的SI問題（上升時間與信號(hao)完整(zheng)性，傳輸(shu)線(xian)的種類，反(fan)射(she)的產生和如(ru)何消(xiao)除(chu)，串擾的產生和消(xiao)除(chu)，電源/地噪(zao)聲如(ru)何消(xiao)除(chu)等）
4.電源質量測試
4.1.幅值測試：講解各種電源幅值的問題、測試方法和測試注意事項
4.2.紋(wen)波(bo)/噪(zao)聲(sheng)測(ce)試：講(jiang)解各種電源紋(wen)波(bo)/噪(zao)聲(sheng)的定義(yi)、來源、產(chan)生機(ji)理、可靠性影響、消除方(fang)法、測(ce)試方(fang)法和測(ce)試注意(yi)事項
5.常見通訊方式測試
5.1.SPI、I2C、Uart和USB等特點和測試要求
5.2.無線通訊（藍牙、wifi等）測試特點和要求
6.其他測試等
6.1.復位/watchdog測試
6.2.電源上電浪涌測試
6.3.斷電及熱插拔測試
6.4.……
7.課程總結
講師介紹
武華卿
電子工程碩士，研究領域：電子產品系統可靠性設計與測試技術。
曾任航天二院總體設計所設計師，機電制造企業研發總監、事業部總監，北京市級優秀青年工程師，科協委員。
對電子產品系統設計、可靠性設計有較深入研究，曾在學術會議及多家技術刊物發表專業文章，曾出版專業書籍《嵌入式系統可靠性設計技術與案例解析》（北航出版社）。
曾為航天、中電、中科院、航空、醫療電子、通信、安防、電力電子、分析儀器、工業控制、消費類電子等多個行業上百家客戶提供相關 培訓 和 圖紙審核輔導 技術服務。
專(zhuan)注(zhu)于(yu)電(dian)子工(gong)程設計、工(gong)程數學、技術方法論 三者(zhe)相結合(he)的研究。